細田・田原 研究室

実験装置一覧

＜(1)材料作製装置＞
・アーク溶解炉
・光学式浮遊帯域溶融装置 ・圧延機（ホットプレス，冷間圧延，熱間圧延）
・恒温炉，熱処理炉
・放電加工機，ファインカッター
・回転研磨機
・イオンミリング

＜(2)材料評価装置＞
・熱分析 （DSC, TG-DSC, DMA, TMA)
・XRD
・機械試験機
・VSM
・X線CT
・TEM，SEM，光学顕微鏡

(1) 合金作製装置（溶解炉・高温プレス・圧延機・熱処理炉など）

		左) 非消耗型真空アーク溶解炉　大亜真空技研製 古い装置ですが，活躍しています．ロータリポンプ，油拡散ポンプ付き．合金は主に本装置で作製しています． 右) 非消耗型真空アーク溶解鋳造炉　日新技研製, NEV-AD03TC型 アーク溶解によって得た溶湯を，チャンバー内でそのまま鋳型に流し込むことができます．
		光学式浮遊帯域溶融装置　東栄科学産業製, FZ-20035WHV 浮遊帯域法によって単結晶の育成を行う装置です．試料の溶解は，ハロゲンランプを加熱源として反射鏡により集光することで行います．
		攪拌器　KEYENCE, HM-500 粉末などの攪拌・混合に使っています．
		高温ホットプレス　雅慶電機製作所製, GHC-S型 左) 炉・加圧部分 右) 左：温度・雰囲気制御板 　　右：圧力制御板 シリコニット発熱体使用 不活性ガス雰囲気中にて1400℃までの温度範囲でホットプレス・高温鍛造ができます．現在では，主に黒鉛（カーボン）冶具を使っています．
		真空封入装置 RP/DP付きです．石英管に試料を入れ，真空にした後，バーナーで封入します．大気炉でも真空・雰囲気中で熱処理でき，破割することで急冷できます．
		圧延機各種 左) 大型圧延機 右) 熱間用圧延機 金属・合金の板材，もしくは線材を作製できます． 熱間用圧延機は，耐熱ロールを使用しているため，電気炉で加熱した合金の圧延が可能です．
		圧延機各種 左) 小型圧延機 右) 小型圧延機 金属・合金の板材，もしくは線材を作製できます．
		50トンプレス 大型のプレス装置です．
		電気炉各種 左) 全体 右) 小型ボックス炉　Koyo, KBF542N1
		左奥) 小型電気炉　HAYASHI DENKO, NEW-1C 左前) 小型電気炉　東京硝子器械, Fine F-140T 1100℃まで熱処理できます．大気炉です． 右) 小型マッフル炉　いすゞ製作所, DSTR-11K
		左) 管状炉　アサヒ理化製作所, ARF1060-500-40KC 右) 管状炉　Koyo, KTF045N 横型の管状炉です．大気炉です．
		小型高温チャンバー　espec, STH-120 熱風循環式の高温チャンバーで，優れた温度分布性能を備えています．
		左）ファインカッター　平和テクニカ, FiNE CUT, HS-45A2 原料や試料の切り出しに使用します． 右）放電加工機　ブラザー工業, HS-300 加工用プログラムを作成することで複雑な形状の精密加工ができます．
		回転研磨機 左) マルトー製, ドクターラップ ML-180 粗さの異なる耐水エメリー紙を使い分け，原料や作製した合金の表面研磨に使用します． 右) BUEHLER社製, ECOMET6 ダイヤモンドペーストを用いた機械研磨を行うことで，表面を鏡面状態に仕上げる際に使用します．
		自動研磨機　池上精機, IS-POLISHER 試料をスイングアームに固定した状態で回転研磨を行います．研磨盤の回転数や荷重，研磨量を制御することができ短時間で精度の良い研磨が可能です．
		TEMディスク用イオンミリング Fischione Instruments製, Model 1010 Ion Mill Arガスを用いてイオンビームを発生させ，TEM用試料を研磨し作製します．
その他，共用のファインカッター，研磨装置，ドラフターなどもあります．

(2) 材料評価装置（熱分析・XRD・機械試験機・電子顕微鏡など）

		熱分析装置各種 左) 熱重量計-示差走査熱量計 Netzsch-Geratebau製, STA 449 C Jupiter 熱重量計(TG)-示差走査熱量計(DSC)で，DSCとTGの同時が出来，磁場中での測定も可能です． 室温〜1600℃の範囲で測定でき，雰囲気制御できます．DSC，磁気天秤，酸化試験など多様な試験が可能です． 右）示差走査熱量計　島津製作所製, DSC-60plus -120℃から600℃の範囲で測定できます．自動制御冷却機構付き
		左) 動的熱機械特性測定装置　Netzsch-Geratebau製, Dynamic Mechanical Analyser DMA DMA242 C -170℃から600℃，0.01Hzから100Hz，16Nまでの範囲で弾性率，弾性コンプライアンス，内部摩擦（ダンピング），クリープ試験などの静的・動的測定ができます．自動温度制御機構付き．カンチレバー，三点曲げ，引張，圧縮などの多彩なモードで試験できます．大変位でのダンピング特性や，ヤング率の温度依存性を計るのに適しています． 右) 熱機械的装置　Seiko Instruments Inc.製, TMA/SS6000
		X線回折分析装置 (XRD) PANalytical(前PHILIPS)製, X'Pert PRO MPD 左) 外観，右) 試料部 (左が管球，右が検出器) アタッチメント(Anton Paar, TTK450)により-190℃から450℃までの測定ができます．
		X線回折分析装置 (XRD) PANalytical製, X'Pert PRO MRD 左）外観，右）試料部
		イメージングプレート読取機能一体型ラウエカメラ　TRY-IPX-LC(E), Rigaku製X線発生装置 X線回折によるラウエパターンを撮影します．IPラウエカメラの本体に読取機能を組込んでおり，単結晶の方位解析などに使用しています．
		微小硬度計 ビッカース硬度計　AKASHI製, HM-102 ビッカース硬度試験と，コンピュータにより圧痕画像の取得ができます．
		機械試験機 SHIMADZU製, Autograph AG-500N 左）試験器本体 右）恒温炉(-150℃-320℃)を装着したところ 高温炉により，雰囲気中かつ各温度での引張試験と，一定負荷応力下での変位測定ができます． 本装置は500N型ですが，ロードセルには，1ｋN(100kg)のものを使っています．
		左) SHIMADZU, Autograph AG-Xplus 5kN ビデオ式非接触伸び幅計 TRViewX5SS付き 右) SHIMADZU, Autograph AG-Xplus 20kN x2 試験容量が20kNで圧縮試験用の治具を主に使用しています．温度可変のチャンバーを使用することで，各温度における圧縮試験，一定応力下での変位測定ができます．
		振動試料型磁力計(VSM)　玉川製作所製, TM-VSM1530 HGC-D型 電磁石型・2Tまで，-190℃から900℃まで測定できます．左) コントローラと磁石，右) 電磁石部分
		X線CT装置　コムスキャンテクノ社製, ScanXmate-DF160TSS 最大管電圧: 160kV 最小焦点径: 0.8um 複合材料の内部構造を，コンピュータ断層撮影により3Dグラフィクスとして分析しています．
		左) TEM (透過型電子顕微鏡)　日本電子製, JEM-2100 加速電圧80〜200kV 右) FIB (集束イオンビーム加工観察装置)　HITACHI製, FB-2100 薄膜膜試料作製用マイクロサンプリングRシステム搭載
		SEM (走査型電子顕微鏡) 3台 左) HITACHI製, SU5000 EBSD検出器　TSL, DVC5型搭載． ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡です．SEM内加熱ステージ，SEM内引張ステージに対応しています． 右) HITACHI, S-4500 冷陰極電界放出形電子銃を備えています．
		HITACHI製, S-4300SE EDS検出器　HORIBA, EMAX ENERGY EBSD検出器　BRUKER, QUANTAX CrystAlign EBSD system EDXおよびEBSD検出器を備えており，組成分析や結晶方位の解析が可能です．
		OM (光学顕微鏡) 2台 左) KEYENCE製, VHX-100F 100〜5000倍で試料表面の組織観察ができます．温度可変チャンバーを搭載しています． 右) KEYENCE製, VHX-7000 電動ステージ・電動レンズ交換搭載の4K対応マイクロスコープです．