材料作製装置
非消耗型真空アーク溶解炉/大亜真空技研製
古い装置ですが活躍しています.ロータリポンプ,油拡散ポンプ付き.合金は主に本装置で作製しています.
消耗型真空アーク溶解鋳造炉/日新技研製, NEV-AD03TC型
アーク溶解によって得た溶湯を,チャンバー内でそのまま鋳型に流し込むことができます.
光学式浮遊帯域溶融装置/ユーロシステム製, FZ-20035WHV
浮遊帯域法によって単結晶の育成を行う装置です.試料の溶解は,ハロゲンランプを加熱源として反射鏡により集光することで行います.
高温ホットプレス装置/雅慶電機製作所製, GHC-S型
シリコニット発熱体使用.不活性ガス雰囲気中にて1400℃までの温度範囲でホットプレス・高温鍛造ができます.現在では,主に黒鉛(カーボン)冶具を使っています.
真空封入装置
RP/DP付きです.石英管に試料を入れ,真空にした後,バーナーで封入します.大気炉でも真空・雰囲気中で熱処理でき,破割することで急冷できます.
圧延機各種
金属・合金の板材,もしくは線材を作製できます.
熱間用圧延機は,耐熱ロールを使用しているため,電気炉で加熱した合金の圧延が可能です.
50トンプレス機/島津製作所製
大型のプレス装置です.
電気炉各種
小型ボックス炉 Koyo KBF542N1
小型電気炉 HAYASHI DENKO, NEW-1C
小型電気炉 東京硝子器械, Fine F-140T
小型マッフル炉 いすゞ製作所, DSTR-11K
管状炉 アサヒ理化製作所, ARF1060-500-40KC
管状炉 Koyo, KTF045N
最高温度1000~1300℃の大気炉です.金属・合金の熱処理に使用します.
小型高温チャンバー/ESPEC製 STH-120
熱風循環式の高温チャンバーで,優れた温度分布性能を備えています.
撹拌機/KEYENCE, HM-500
粉末などの攪拌・混合に使っています.
ファインカッター/平和テクニカ製 FiNE CUT, HS-45A2
原料や試料の切り出しに使用します.
放電加工機/ブラザー工業製 HS-300
加工用プログラムを作成することで複雑な形状の精密加工ができます.
回転研磨機/マルトー製 ドクターラップ ML-180
粗さの異なる耐水エメリー紙を使い分け,原料や作製した合金の表面研磨に使用します.
バフ研磨用回転研磨機/BUEHLER社製, ECOMET6
ダイヤモンドペーストを用いた機械研磨を行うことで,表面を鏡面状態に仕上げる際に使用します.
精密研磨装置/池上精機製 IS-POLISHER ISSP-1000
試料をスイングアームに固定した状態で回転研磨を行います.研磨盤の回転数や荷重,研磨量を制御することができ短時間で精度の良い研磨が可能です.
SEM試料用イオンミリング装置/日立ハイテク製 IM4000
SEM観察用試料の仕上げ研磨に使用します.液体窒素による冷却機能付きで,平面ミリングと断面ミリングが可能です.
TEM試料用イオンミリング装置/Fischione Instruments製, Model 1010 Ion Mill
TEM用イオンミリング装置です.電解研磨で試料作製ができない場合や,試料表面のクリーニングに使用します.
材料評価装置
熱重量計-示差走査熱量計/Netzsch-Geratebau製 STA 449 C Jupiter
熱重量計(TG)-示差走査熱量計(DSC)で,DSCとTGの同時が出来,磁場中での測定も可能です.室温~1600℃の範囲で測定でき,雰囲気制御できます.DSC,磁気天秤,酸化試験など多様な試験が可能です.
示差走査熱量計/島津製作所製 DSC-60plus
-120℃から600℃の範囲で測定できます.自動制御冷却機構付き.
動的熱機械特性測定装置/Netzsch-Geratebau製 DMA242 C
-170℃から600℃,0.01Hzから100Hz,16Nまでの範囲で弾性率,弾性コンプライアンス,内部摩擦(ダンピング),クリープ試験などの静的・動的測定ができます.自動温度制御機構付き.カンチレバー,三点曲げ,引張,圧縮などの多彩なモードで試験できます.大変位でのダンピング特性や,ヤング率の温度依存性を計るのに適しています.
熱機械測定装置/Seiko Instruments Inc.製 TMA SS6000
-150~600℃までの熱膨張を測定できます.引張,圧縮などの各種測定モードがあります.
粉末X線回折装置(XRD)/PANalytical(前PHILIPS)製, X’Pert PRO MPD
試料の相同定,結晶構造解析に使用します.アタッチメント(Anton Paar, TTK450)により-190℃から450℃までの測定ができます.
結晶配向評価用X線回折装置/PANalytical製, X’Pert PRO MRD
材料の結晶配向(集合組織)を定量的に評価するために使用します.
イメージングプレート型X線ラウエカメラ/TRY-IPX-LC(E), Rigaku製X線発生装置
ラウエパターンを撮影します.ラウエカメラの本体にイメージングプレート読取機能を組込んでおり,単結晶の方位解析に使用しています.
ビッカース硬度計/AKASHI製 HM-102
ビッカース硬度試験と,コンピュータにより圧痕画像から硬度データの取得ができます.
機械試験機/島津製作所製 AG-Xplus 20kN 二台
試験容量が20kNの大型機械試験機です.現在,主に圧縮試験に使用しています.自作治具を使用して液体中または電気炉中での試験が可能です.様々な温度での応力-歪み曲線の測定や一定応力下での加熱・冷却中の変位測定ができます.
温度制御チャンバー付き機械試験機/島津製作所製 AG-500N
チャンバー装着により,雰囲気中かつ各温度での引張試験と,一定負荷応力下での変位測定ができます.本装置は500N型ですが,ロードセルには,1kN(100kg)のものを使っています.
ビデオ式非接触伸び計つき機械試験機/島津製作所製 AG-Xplus 5kN
変形中の試料画像から正確に試料の伸びを計測出来ます.
振動試料型磁力計/玉川製作所製 TM-VSM1530 HGC-D型
電磁石型・2Tまで,-190℃から900℃まで測定できます.
X線CT装置/コムスキャンテクノ社製 ScanXmate-DF160TSS
最大管電圧: 160kV,最小焦点径: 0.8um.複合材料の内部構造を,コンピュータ断層撮影により3Dグラフィクスとして分析しています.
光学顕微鏡/KEYENCE製, VHX-7000
電動ステージ・電動レンズ交換搭載の4K対応マイクロスコープです.
温度可変チャンバー付き光学顕微鏡/VHX-100F
100~5000倍で試料表面の組織観察ができます.真空排気装置と温度可変チャンバーを搭載しており,約-100~400℃での観察が可能です.
走査電子顕微鏡(SEM)/日立製 SU5000
EBSD検出器 TSL, DVC5型搭載.解析用ソフトウエア OIM Analysis 9.ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡です.SEM内加熱・冷却ステージ,SEM内引張ステージに対応しています.
走査電子顕微鏡(SEM)/日立製 S4300SE
EDS検出器 HORIBA, EMAX ENERGY,EBSD検出器 BRUKER, QUANTAX CrystAlign EBSD systemを備えており,組成分析や結晶方位の解析が可能です.
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)/日立製 FB-2100
薄膜膜試料作製用マイクロサンプリングRシステム搭載.微小試験片の加工などに使用します.
透過電子顕微鏡/日本電子製 JEM-2100
LaB6タイプのTEMです.サイドマウントCCDカメラとEDSを搭載しています.加熱二軸ホルダを使用できます.